Wissenschaftliche Dienstleistungen und IT

Als eng mit der Industrie vernetztes Institut haben wir viele industriell geprägte Forschungskooperationen. Über diese langfristigen Forschungskooperationen hinaus bieten wir, in Kooperation mit der Steinbeis GmbH, wissenschaftliche Dienstleistungen für den kurzfristigen Bedarf an. Egal ob nur eine Siliziumprobe gereinigt, oder texturiert, oder ein kompletter Hocheffizienz-Zellrun inklusive Verlustanalyse durchgeführt werden soll, erstellen wir Ihnen nach einer ausführlichen Beratung unserer Spezialisten gerne zeitnah ein Angebot. 

Hier ein kleiner Ausschnitt unserer angebotenen Leistungen und verfügbaren Messmethoden:

• Komplette Zellruns (ausgehend vom Wafer)
• Teilprozessierungen
• PECVD, APCVD und ALD Prozesse auch mit dotierten Schichten
• Komplette Verlustanalyse von Solarzellen mit I-V und SR Messung
• Raman-Messungen
• AFM Messungen
• Reflexions-Messungen
• Lebensdauer-Messungen (auch temperaturabhängig und ortsaufgelöst)
• Degradations-Messungen
• 4-Punkt und ECV Messungen
• TLM und Corescan-Messungen
• Ellipsometer- und FTIR Messungen
• Elektro- und Photolumineszenz-Messungen
• Lock-In Thermographie-Messungen (iLIT, dLIT)
• LBIC und EBIC Messungen
• REM Aufnahmen mit Partikelstrahlmanipulation (FIB), elementspezifischer Analyse (EDX) und Elektronenrückstreubeugung (EBSD)
• TEM Aufnahmen mit Probenpräparation
• Optische Emissionsspektrometrie mit induktiv gekoppeltem Plasma (ICP-OES)
• Sputtern und Aufdampfen von dünnen Schichten unterschiedlicher Materialien
• Chipsägen von Silizium und Gläsern
• Laserschneiden und Beschriften von Silizium

Weiterführende Erklärungen der Charakterisierungsmethoden finden Sie auf der Seite unserer Charakterisierungsgruppe und unter Charakterisierung. Einige Prozessschritte finden Sie unter Prozessierung erklärt.

Diese Gruppe betreut außerdem umfangreiche IT Infrastruktur. Für den innerinstitutlichen Austausch von Daten und Wissen betreiben wir einen eigenen Dateiserver und ein eigenes Wiki.